- 名稱:反射率測量系統
- 型號:反射率測量系統
- 品牌:Ocean Optics
- 描述:該系統可以用于測量元件的反射率,測量物體的反射顏色和化學樣品中的成分信息。
反射測量
反射測量可以用于測量元件的反射率,測量物體的反射顏色和化學樣品中的成分信息。
光譜儀:
可以使用高性價比的USB4000光譜儀,覆蓋紫外到可見200-850nm的范圍,或者可見到近紅外350-1000nm的范圍;或覆蓋200-1100nm的HR4000光譜儀。如果您考慮的是紅外波段,可以使用NIRQuest近紅外光譜儀,或者紅外光譜儀。
采樣附件:
測量反射率的時候,必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射,或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品。
鏡面反射和漫反射
對于絕大多數的測量,都可以使用反射探頭的方式來實現。使用QR400-7-UV-NIR反射探頭,一端接光譜儀,一端接光源,探頭的公共端可以通過RPH-1這個探頭支架固定,方便的在樣品表面測量,反射探頭可以在單一方向進行照射和接受,如果是鏡面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。
反射率隨角度變化的樣品
使用積分球ISP-Ref或者ISP-R積分球來測量,由于積分球的特性,可以將樣品在各個方向上的反射光收集到積分球中,勻化以后,通過光纖進入光譜儀。
光源:
可以使用覆蓋可見和近紅外范圍的鹵鎢燈HL2000,或者紫外到近紅外的DH-2000-BAL光源,如果您需要更便攜的光源,也可以使用DE-mini光源。
反射標準:
如果是漫反射,可以使用ws-1;如果是鏡面反射,可以使用STAN-SSH(高反射率)或者STAN-SSL(高反射率),更有STAN-SSH-NIST,具有NIST標準的反射率文件,可以直接調入軟件測量樣品的反射率。