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      產品中心
      FA8失效分析探針臺
      • 名稱:FA8失效分析探針臺
      • 型號:FA8
      • 品牌:SEMISHARE
      • 描述:FA8失效分析探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備,具光學特性、激光特性,設備結構穩定,系統性能...
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      產品概述
      主要特點
      選型指南
      資料下載


      產品概要

      FA8失效分析探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備,具光學特性、激光特性,設備結構穩定,系統性能優異,人體工程學設計,操作便捷,支持多功能升級,產品功能豐富齊全。



      基本信息

      產品型號 FA8 工作環境 開放式
      電力需求 220VC,50~60Hz 操控方式 手動探針臺
      產品尺寸 960mm長*850mm寬*1500mm高 設備重量 約260KG



      應用方向

      常溫和高低溫環境下的芯片失效分析、射頻特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性測試及失效分析、芯片內部線路/電極/PAD測試、IC/面板內部線路修改/去層



      技術特點

      產品特點

      ●大手柄驅動,無間隙移動 ●人體工程學設計,操作便捷舒適 ●多波段激光應用,快速切換精準切割 ●兼容高倍率金相顯微鏡,可達到1μm以上的Pad測試 ●無回程差設計,定位精準 ●空氣冷卻結構體積小巧,無需維護 ●高精度系統,激光加工精度可達1*1μm ●領先的內部防震系統裝置,運行更穩定

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